產品中心
Product Center桌面式小型探針臺,配套了高精度PID溫度控制器,用戶可以清楚直觀地了解了整體系統相關位置的溫度情況,確保溫度測試的可靠性
高低溫真空探針臺KT-Z160T-RL,用于霍爾效應霍爾效應測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列測試儀、探針臺系列、顯微鏡系列
小型氣敏探針臺KT-Z4019MRL4T,4探針手動調節,純銀加熱臺,-196℃至350℃(溫控精確±0.5)
微型高低溫探針臺KT-Z4019MRL4T結構緊湊,適用于各種變溫測試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設計,可通保護氣氛
真空探針臺KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。