產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)
product
產(chǎn)品分類精密氣浮臺(tái)高低溫真空探針臺(tái),600x600x200mm氣震臺(tái),減震效果達(dá)97%,真空高低溫探針臺(tái),凹視觀察窗,高精度探針滑臺(tái)。
小型氣敏探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T,4探針手動(dòng)調(diào)節(jié),純銀加熱臺(tái),-196℃至350℃(溫控精確±0.5)
微型高低溫探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測(cè)試。-196℃~400℃(配液氮致冷模塊)氣密腔室設(shè)計(jì),可通保護(hù)氣氛
真空探針臺(tái)KT-Z160TZ,高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境,以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。
高溫真空探針臺(tái)KT-Z1604TZ,可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件,溫度可達(dá)到400℃。以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。